面板驅(qū)動芯片RA老化服務是一項專業(yè)的技術服務，旨在通過模擬實際工作環(huán)境和使用條件，對面板驅(qū)動芯片進行加速老化測試。該服務能夠全面評估芯片在長期使用過程中的性能穩(wěn)定性和可靠性，為客戶提供重要的質(zhì)量保障和風險評估依據(jù)。CTI華測檢測可全面評估芯片在長期使用過程中的性能穩(wěn)定性和可靠性，為客戶提供重要的質(zhì)量保障和風險評估依據(jù)。

CTI華測檢測為您提供完整的芯片產(chǎn)品老化壽命試驗項目，包含技術整合咨詢、實驗設計規(guī)劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務，協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。作為領先可靠度試驗業(yè)界的先驅(qū)，經(jīng)全方位評估，已購入美國MCC設備公司所制造之HPB-4B IC老化壽命試驗設備，以作為產(chǎn)業(yè)發(fā)展之關鍵位置，協(xié)助客戶優(yōu)先完成驗證，營銷市場。

芯片產(chǎn)品壽命預估服務是一項基于先進技術和大數(shù)據(jù)分析的專業(yè)服務，旨在為客戶提供精確的芯片壽命預測和性能分析。該服務能夠全面評估芯片在長期使用過程中的性能穩(wěn)定性和可靠性，為客戶提供重要的質(zhì)量保障和風險評估依據(jù)。

CTI華測檢測擁有專屬的硬件設計團隊，具備與客戶溝通及設計合作的豐富經(jīng)驗。秉持客戶導向的服務基礎，并透過直接討論修正，以提供高質(zhì)量、快速交期，協(xié)助客戶在競爭的市場中，取得產(chǎn)品上市的先機。

車用電子協(xié)會(AEC，Automotive Electronics Council)為了讓電子組件的驗證有一個共同的參考驗證內(nèi)容，因此根據(jù)產(chǎn)品類別陸續(xù)制定了不同驗證標準，讓各家電子組件廠商欲進入車用市場時，有一個適當?shù)尿炞C基礎。CTI華測檢測可您提供汽車芯片電子可靠性試驗，包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個系列的測試認證服務。

芯片封裝可靠性環(huán)境應力試驗的目的主要是針對半導體零件的封裝(Package Assembly)質(zhì)量進行試驗。影響封裝質(zhì)量的關鍵環(huán)境包括：封裝結構的耐溫水平、封裝結構的抗溫濕水平、封裝結構的疲勞老化因素，最后是有關保存與管制的要求。CTI華測檢測可提供完整的芯片封裝可靠性環(huán)境試驗項目，包含技術整合咨詢、實驗設計規(guī)劃、硬件設計制作、環(huán)境應力試驗、封裝品質(zhì)試驗等一站式服務，協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。

CTI華測檢測提供完整的芯片產(chǎn)品老化壽命試驗項目，包含技術整合咨詢、實驗設計規(guī)劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務，協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。