作為中國第三方檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)的開拓者和領(lǐng)先者,CTI華測(cè)檢測(cè)為全球客戶提供一站式檢驗(yàn)、測(cè)試、校準(zhǔn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)。
服務(wù)能力已全面覆蓋到紡織服裝及鞋包、嬰童玩具及家居生活、電子電器、醫(yī)學(xué)健康、食品及農(nóng)產(chǎn)品……等行業(yè)的供應(yīng)鏈上下游。
全面保障品質(zhì)與安全,推動(dòng)合規(guī)與創(chuàng)新,彰顯品牌競(jìng)爭(zhēng)力,實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量、更健康、更安全、更綠色的可持續(xù)發(fā)展。
首頁 > 我們的服務(wù) > 測(cè)試服務(wù) > 芯片及半導(dǎo)體 > 非破壞分析 > 服務(wù)詳情
? 服務(wù)背景
超聲波掃描顯微鏡(SAT)是透過反射、穿透、分散、材料變化與缺陷產(chǎn)生不同訊號(hào),進(jìn)而產(chǎn)生不同檢驗(yàn)圖像作為分析。SAT運(yùn)用各種不同頻率的探頭來做各種樣品的非破壞檢測(cè),其可無損的檢測(cè)IC內(nèi)部結(jié)構(gòu),可分層、多層掃描檢測(cè)IC內(nèi)部各項(xiàng)缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞、晶界邊界等),并檢測(cè)出IC表征和測(cè)量材料的屬性。
? 超聲波掃描顯微鏡測(cè)試(SAT)
應(yīng)用場(chǎng)景
設(shè)備參數(shù)
低頻:15MHz、25MHz、30MHz
中間:50MHz、75MHz
高頻:100MHz、120MHz、230MHz
檢測(cè)案例
? 服務(wù)優(yōu)勢(shì)
? 服務(wù)流程