電光探測/電光頻率成像（Electro Optical Probing/Electro Optical Frequency Mapping or Laser Voltage Image+Probe，簡稱EOP/EOPM or LVX）。是一項結合先進光學技術和電子工程技術的專業(yè)服務。它利用電光效應（EO）原理，通過激光束與芯片表面或內部結構的相互作用，實現(xiàn)對芯片性能、材料特性以及失效機理的精確分析和評估。EOP/EOPM技術為芯片設計、制造、測試及失效分析等領域提供了強大的技術支持。
CTI華測檢測憑借先進的設備和專業(yè)的技術團隊，為客戶提供高質量、高效率的EOP/EOPM服務，為芯片設計、制造、測試及失效分析等領域提供了強大的技術支持，助力客戶在激烈的市場競爭中取得優(yōu)勢。
? 服務優(yōu)勢
1.高精度測量
EOP/EOPM技術具有高精度、高分辨率的特點，能夠捕捉到微小的信號變化和材料特性差異。
2.非接觸式檢測
無需接觸芯片表面，避免了對樣品的損傷和污染，特別適用于高精密度和高可靠性要求的芯片產品。
3.快速響應
EOP/EOPM技術能夠迅速響應信號變化，實時反映芯片的工作狀態(tài)，提高檢測效率。
4.強大分析能力
結合先進的圖像處理和數(shù)據分析技術，EOP/EOPM技術能夠深入挖掘芯片內部的信號傳輸規(guī)律和失效機理，為客戶提供全面的分析報告和解決方案。
? 服務流程
粵公網安備 44030602000441號